Металографічні мікроскопи NEOPHOT, МИМ

Мікроскоп металографічний призначений для ідентифікації і аналізу структури різних металів і сплавів. Застосовується в машинобудуванні, металургії і інших галузях промисловості.  Застосовується для дослідження якості литва, плавки і високотемпературної обробки, для тестування сировини і оброблених матеріалів і аналізу матеріалів після високотемпературної обробки.

Мікроскоп NEOPHOT дозволяє аналізувати метали, неметали при збільшеннях до 2000 крат, отримувати  зображення в цифровому вигляді для подальшого аналізу прикладими програмами.

 

           

            Основні характеристики:

            Збільшення мікроскопа, крат: от 10 до 2000

            Діапазон обертання столика, град.: от 0 до 360

            Джерела світла: галогенова лампа 12В – 100Вт, ксенонова лампа ХВО 101

 

 

 

 

  

         

           Основні характеристики:

           Збільшення х100 - 1350 при візуальному спостереженні,

           х400 - 2000 при фотографуванні

 

 

 

 

Растровий електронний мікроскоп РЕМ-100У

Мікроскоп застосовується для металографічного та дефектоскопічного аналізу.

Основні характеристики:

Діапазон регулювання збільшення 40 - 100 000 крат.

Допустима відстань не більше 20 нм.

Діапазон регулювання часу розвертки зображення по кадру 0,7 ± 0,14 - 12,7 ± 25,4 с.

 

    

 

 

Дифрактометр рентгенівський ДРОН-3

Дифрактометр рентгенівський ДРОН-3 призначений для проведення широкого кола рентгеноструктурних досліджень кристалічних матеріалів (метали, мінерали, кераміка, полімери, об'єкти навколишнього середовища). Дифрактометр забезпечує роботу з рентгенівськими трубками типу БСВ27, БСВ28, БСВ29.

   

 

Основні характеристики:

Потужність вихідна джерела рентгенівського випромінювання - 3,0 кВт.

Діапазон регулювання високої напруги - 2 60 кВ.

Діапазон регулювання струму анода рентгенівської трубки - 2 99 мА.

Анод рентгенівської трубки і генератор джерела рентгенівського випромінювання ИРИС М7 охолоджуються проточною водопровідною водою з витратою не менше 3 л / хв при температурі вхідної води не більше +20 ° С.

 

 

 

 

Пропонуємо проведення рентгеноструктурного аналізу твердих та конденсованих зразків різної природи з оцінкою відносної кількості окремої кристалічної фази з використанням картотеки емпіричних довідкових стандартів Міжнародного центру дифракційних даних (Snternacional Center for Difraction Data – ICDD).

 

 

Рентгенофлуоресцентний аналіз елементного складу, «Elvax Light»

Рентгенофлуоресцентний аналіз елементного складу (від Na (Z = 11) до U (Z = 92) різних зразків (твердих, порошкоподібних, рідин) із використанням приладу «Elvax Light» із точністю 0,1 – 0,3 %.