UA 
EN 
11 березня для студентів 3 курсу (групи МТ-81) ст. викладачем кафедри ПМ і ТКМ Христиною Берладір в рамках вивчення дисципліни «Дефектоскопія і методи структурного аналізу матеріалів та виробів» організовано екскурсію в Центр колективного користування науковим обладнанням «Лабораторія матеріалознавства геліоенергетичних, сенсорних та наноелектронних систем», який є структурним підрозділом науково-дослідної частини Сумського державного університету.
Вячеслав Журба, доцент кафедри комп’ютерних наук, ознайомив студентів з будовою, принципом роботи та можливостями дослідження скануючого електронного мікроскопа SEO-SEM Inspect S50-B
Призначений для вимірювань лінійних розмірів, форми, орієнтації та інших параметрів наноструктур і мікрорельєфу поверхонь різних об'єктів.
Дозволяє вивчити нанохарактерістіки металів і сплавів; окислення / корозії; зварювання, полірування; магнітних матеріалів і надпровідників; керамічних, композитних і полімерних матеріалів; геологічних розрізів, мінералів; м'яких матеріалів: полімерів, фармацевтичних препаратів, фільтрів, гелів, тканин, рослинних матеріалів тощо, а також проводити елементний аналіз досліджуваного зразка методом рентгенівської енергодисперсійної спектроскопії;
Андрій Логвинов, м.н.с. кафедри електроніки, загальної та прикладної фізики ознайомив студентів з принципом роботи рентгенівського дифрактометра ДРОН-3М
Призначений для широкого кола рентгеноструктурних досліджень різних матеріалів.
Дозволяє проводити дослідження структури кристалічних і аморфних матеріалів, а саме:
- точно визначити параметри решітки кристалічних речовин;
- визначити розміри кристалітів;
- вивчити напружений стану речовини;
- дослідити текстуру та провести фазовий аналіз;
- вивчити структурні зміни, що відбуваються в деформованих металах при нагріванні;
- визначити аморфність речовини.
